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半導體測試高低溫沖擊試驗箱

型 號

產品時間2024-11-29

所屬分類高低溫沖擊試驗箱

報價68500

產品描述:半導體測試高低溫沖擊試驗箱又名冷熱沖擊機、高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機等。用于電子電器零組件、自動化零部件、汽車配件、金屬、塑膠等行業。測試其材料對高低溫反復抵拉力以及產品對其產品及材料進行高溫與低溫之間的瞬間變化環境下檢驗其各項性能指標。應用于消費性電子工業,光電產業,生物科技,學術研究單位,半導體工業,通訊工業,汽車工業,資訊工業。
產品概述

  半導體測試高低溫沖擊試驗箱又名冷熱沖擊機、高低溫沖擊試驗機、冷熱沖擊試驗機等。用于電子電器零組件、自動化零部件、汽車配件、金屬、塑膠等行業。測試其材料對高低溫反復抵拉力以及產品對其產品及材料進行高溫與低溫之間的瞬間變化環境下檢驗其各項性能指標。應用于消費性電子工業,光電產業,生物科技,學術研究單位,半導體工業,通訊工業,汽車工業,資訊工業。

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

一、性能特點:

三箱設備區分為:高溫區、低溫區、測試區三部分,測試產品置于測試區,沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行沖擊, 測試產品為靜態式。

1、采用觸控式圖控操作介面,操作筒易;

2、沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區,做冷熱沖擊測試;

3、高溫沖擊或低溫沖擊時,zui大時間可達999H,zui大循環周期可達9999次;

4、系統可作自動循環衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始;

5、冷卻采二元冷凍系統,降溫效果快速,冷卻方式為水冷式;

6、可以試驗沖擊常溫執行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

半導體測試高低溫沖擊試驗箱

二、系統控制:

 1、制冷系統:全封閉壓縮機所組成的二元復疊式風冷制冷系統,風冷式盤管冷凝器、鰭片式多段式蒸發器,主要制冷配件及控制器件均采用原件;

 2、電器控制系統:電氣控制部分采用“施耐德”交流接觸器,熱繼電器,質量可靠;

 3、安全保護系統:超溫報警,線路保險絲及全護套式端子,欠相缺相保護,快速熔斷器,壓縮機高低壓、過熱、過電流保護、缺氣保護,過電流保護,接地保護。

三、安全功能

 1、溫度偏高、偏低和超溫報警;

 2、 壓縮機過熱、過流、過載保護,風機過熱保護等;

 3、獨立限溫報警系統,超過限制溫度即自動中斷運行,并聲光報警提示操作者。保證實驗安全運行不發生意外。

四、滿足標準:

 1、GJB150.5A溫度沖擊試驗;

 2、GB/2423.13-2002溫度沖擊試驗;

 3、GJB360B 溫度沖擊試驗;

 4、GBT10589-2008低溫試驗箱技術條優缺點。

五、 半導體測試沖擊試驗箱技術參數:

溫度沖擊范圍

高溫60℃~+150℃

低溫-40℃~-10℃

預熱溫度范圍

60℃ ~ +180℃

高溫槽升溫時間

RT(室溫)~  +180℃≤40min(室溫在+10~+30℃時)

預冷溫度范圍

10℃~-55℃

低溫槽降溫時間

RT(室溫)~ -55℃≤35min(室溫在+10-- +30℃時)

溫度波動度

±1.0℃

溫度均勻度

±2.0℃

轉換時間

≤8S

沖擊歸復穩定時間

40-- +150℃為5min內.

 

 

 

 

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